静電気は、分析用ひょう量を困難にします。不正確な絶対重量の生成に加え、ドリフトや再現性の低下の原因となり、データの品質を低下させます。
静電気に対処し、幅広い分析ひょう量アプリケーションで精度を確保するためには、静電気中和技術を内蔵した分析天びんが、コンパクトで効果的なソリューションです。

このインフォグラフィック(Labmanagerとのパートナーシップ)は、Cubis II分析とセミミクロ天びんが電荷中和技術を統合して正確な計量性能をどう実現しているか、紹介しています。
すべてのCubis IIバランスモジュールは直感的な操作ができるように設計されているため、インテリジェントな診断システムでさらに簡単に使用できます。 診断システムは、測定中の人為的エラーの可能性を減らしながら、さまざまなワークフローの再現性を向上させます。

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