最近の放射光施設における軟X線を利用した回折測定のめざましい進歩は、薄膜やナノ構造などを含む極小試料におけるスピンの配列(磁気構造)の決定が可能となるなど、物質科学だけでなく、次世代のデバイスとして期待されているスピントロニクスへの応用が期待されています。

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