株式会社日立ハイテクノロジーズ(執行役社長:久田 眞佐男/以下、日立ハイテク)は、高品位な透過電子顕微鏡(TEM)用試料作製を可能にした、FIB-SEM複合装置/FIB-SEM-Ar/Xeトリプルビーム装置「NX2000」を9月1日から発売します。

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